標本成像小編分享選擇使用標本成像系統可以帶來哪些優勢

標本成像小編分享選擇使用標本成像系統可以帶來哪些優勢

與普通光學顯微鏡不同，在SEM中，是通過控制掃描區域的大小來控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要掃描更小的一塊面積就可以了。標本成像系統放大率由屏幕，照片面積除以掃描面積得到。

歐革電子、特征X射線、背散射電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用于成分分析。但由于電子束只能穿透樣品表面很淺的一層（參見作用體積），所以只能用于表面分析。

透射電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，但其放大倍數Z高可達近百萬倍、達到0.1～0.2nm。使用TEM可以觀察樣品的精細結構，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結構，因此TEM的應用幾乎可涵蓋包括材料科學、地質礦物和其他固體科學以及生命科學在內的所有科學領域。

成為探索客觀物質世界微觀結構奧秘的強有力的手段。應用范圍 TEM的優質性能使其成為物理學、生物學、材料科學等相關科學領域的重要分析方法，可應用于如癌癥研究、病毒學、材料科學。

以及納米技術、半導體研究等方面。標本成像系統能夠觀察和研究金屬及其合金的內部結構并進行晶體缺陷分析；配合相應樣品臺可觀察樣品的形變和斷裂過程；觀察及分析樣品組織結構；高分辨顯微。

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